 |
|
|||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Строительные нормативные акты
   
|
||||||||||||||
|
||||||||||||||
ДСТУ Б А.1.1-9-94. Метод електронної мікроскопії матеріалів
|
|
|||||||||||||
ДСТУ Б А.1.1-9-94
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ
-----------------------------
МЕТОД ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ
МАТЕРІАЛІВ
Терміни та визначення
Видання офіційне
Держкоммістобудування України
Київ
ДСТУ Б А.1.1-9-94
Передмова
1 РОЗРОБЛЕНО
Українським науково-дослідним і
проектно-конструкторським інститутом
будівельних матеріалів та виробів (НДІБМВ
2 ВНЕСЕНО
Управлінням державних нормативів і стандартів
Мінбудархітектури України
3 ЗАТВЕРДЖЕНО ТА НАДАНО ЧИННОСТІ
Наказом Міністерства України в справах
будівництва і архітектури від 12.04.94 р. N83
4 ВВЕДЕНО ВПЕРШЕ
ДСТУ Б В.1.1-9-94
ЗМІСТ
1 Галузь використання .......................... 1
2 Нормативні посилання ......................... 2
3 Основні положення ............................ 2
4 Загальні поняття ............................. 3
4.1 Основні види електронних мікроскопів ..... 3
4.2 Методи одержання зображення в
електронних мікроскопах .................. 5
4.3 Методи досліджень в просвічувальій
електронній мікроскопії .................. 8
Абетковий покажчик українських термінів ........ 17
Абетковий покажчик німецьких термінів .......... 18
Абетковий покажчик англійських термінів ........ 19
Абетковий покажчик французських термінів ....... 20
Абетковий покажчик російських термінів ......... 21
ДСТУ Б А 1.1-9-94
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ
----------------------------------
МЕТОД ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ
МАТЕРІАЛІВ
Терміни та визначення
МЕТОД ЭЛЕКТРОННОЙ МИКОРСКОПИИ
МАТЕРИАЛОВ
Термины и определения
METHOD OF ELECTRONIC MICROSCOPY
MATERIALS
Terms and definitions
------------------------------------------------------------
Чинний від 1994-10-01
1 ГАЛУЗЬ ВИКОРИСТАННЯ
1.1 Цей стандарт установлює терміни та визначення понять, ме-
тодів електронної мікроскопії.
1.2 Терміни, регламентовані в цьому стандарті, придатні
для використання в усіх видах нормативної документації, у довідко-
вій та навчально-методичній літературі а також для робіт з питань
стандартизації або при використанні результатів цих робіт, включа-
ючи програмні засоби для комп'ютерних систем.
1.3 Вимоги стандарту чинні для використання в роботі підпри-
ємств установ, організацій, що діють на території України
--------------------------
Видання офіційне
- 2 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
технічних комітетів з стандартизації, науково-технічних та інженер-
них товариств, міністерств (відомств).
2 НОРМАТИВНІ ПОСИЛАННЯ
У цьому стандарті є посилання на такі документи:
ДСТУ 1.2-93 | Державна система стандартизації України.
| Порядок розроблення державних стандартів.
----------------------------------------------------------
ДСТУ 1.5-93 | Державна система стандартизації України.
| Загальні вимоги до побудови, викладу,
| оформлення та змісту стандартів.
----------------------------------------------------------
КНД 50-011-93| Основні положення та порядок розроблення
| стандартів на терміни та визначення.
----------------------------------------------------------
3 ОСНОВНІ ПОЛОЖЕННЯ
3.1 Для кожного поняття встановлено один стандартизований
термін.
3.2 Подані визначення можна в разі необхідності розвивати
шляхом введення до них похідних ознак, які доповнюють значення
термінів що використовуються. Доповнення не можуть порушувати
обсяги і зміст понять, визначених у стандарті.
3.3 У стандарті, як довідкові, подані німецьки (de), англі-
йські en , французькі (fr) і російські (ru) відповідники стандар-
тизованих термінів а також визначення російською мовою.
3.4 У стандарті наведено абетковий покажчик термінів україн-
ською мовою та абеткові покажчики іншомовних відповідників стан-
дартизованих термінів кожною мовою окремо.
- 3 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
4 ЗАГАЛЬНІ ПОНЯТТЯ
4.1 OCHOBHI ВИДИ ЕЛЕКТРОННИХ МІКРОСКОПІВ
4.1.1 електронний мікроскоп de Elektronenmikroskop
en electron microscope
fr microscope electro-
nique
ru электронный микроскоп
Микроскоп, який формує Микроскоп, формирующий
зображення об'єкта елек- изображение объекта элек-
тронними пучками i за- тронными пучками и сред-
собами електронної оп- ствами электронной опти-
тики ки
4.1.2 просвічувальний елек- de Durchstrahlungselektronen
тронний мікроскоп mikroskop
en transmission electron
microscope
fr microscope [e2]lectro- *
nique par transmission
ru просвечивающий электронный
микроскоп
Електронний мікроскоп, Электронный микроскоп,
який формує зображен- формирующий изображение
ня об'єкта пучками, що обЬекта электронными пуч-
проходять через цей об'- ками, проходящими сквозь
єкт этот обьект
4.1.3 відбивний електронний de Retlexionselektronen
мікроскоп mikroskop
еn reflection electron micros-
cope
fr microscope [e2]lectro- *
nique рar rеflexion
ru отражательный электронный
микроскоп
Електронний мікроскоп, Электронный микроскоп,
який формує зображен- формирующий изображение
ня об'єкта електронни- объекта электронными пуч-
ми пучками відбитими ками, отраженными обьек-
об'єктом том
4.1.4 eмісійний електронний de Emissionselektronen
мікроскоп mikroskop
en emission microscope
fr microscope [a4] [e2]mis- *
sion
ru эмиссионный электронный
микроскоп
Електронний мікроскоп, Электронный микроскоп,
який формує зображення формирующий изображение
за допомогою вторинного оъекта с помощью вторич-
випромінювання, що утвори- ного излучения, образован-
- 4 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
лось при взаємодії пучка ного при взаимодействии
електронів і об єкта пучка электронов и объекта
4.1.5 дзеркальний електрон- de Elektronenspiegelmikroskop
ний мікроскоп en mirror electron microscope
fr microscope [e2]ltetro- *
nique [а4] mirroir *
ru зеркальный электронный
микроскоп
Електронный міксроскоп Электpонный микроскоп,
який формує зображен- формирующий изображение
ня об'єкта за допомогою обьекта электронным зер-
електронного дзеркала калом
4.1.6 автоелектронний de Fel delektronenmikroskop
мікроскоп en field-emission microscope
fr auto-[e2]lectron projec- *
teur
ru автоэлектронный микроскоп
Електронний мікроскоп, Электронный микроскоп,
який формує зображен- формирующий изображение
ня електронним пучком, электронным пучком из-
що випромінює об'єкт, лучаемым объектом, под
під впливом потенціалу воздействием потенциала
електричного поля поля
4.1.7 електронограф de Elektronenbeugungsapparat
еn electron diffractometer
fr diffractom[e2]tre [e2]le- *
ctronique
ru электронограф
Електронний мікроскоп Электронный микроскоп
або прилад y просвічу- или устройство в просвечи-
вальному електронному вающем электронном мик-
мікроскопі для вивчен- роскопе для изучения струк-
ня структури криста- туры кристаллических фаз
лічних фаз методом диф- дифракции электронов
ракції електронів
4.1.8 тіньовий електронний de Schattenmikroskop
мікроскоп еn shadow electron micros-
cope
fr microscope [e2]lectroni- *
que d'ombre
ru теневой электронный мик-
роскоп
Електронний мікроскоп, Электронный микроскоп,
який формує зображен- формирующий изображение
ня об єкта, що обумов- обьекта, обусловленное по-
лене вбиранням i роз- глощением и расссеиванием
сiюванням електронів в электронов в обЬекте при
об'єкті при зондуванні зондировании его электрон-
його електронними пуч- ными пучками
ками
- 5 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
4.1.9 електронний мікроскоп dе H[o1]сhstspannungelektro- *
надвисокої ннпруги nenmikroskop
en ultrahigh voltage electron
microscope
fr miсrоscoре [e2]lectro- *
nique dе tr[e2]s haute *
tension
ru электронный микроскоп
сверхвысокого напряжения
Пpocвiчувальний елек- Просвечивающий электрон-
тронний мікроскоп з ный микроскоп с ускоряю-
прискорювальною на- щим напряжением свыше
пругою понад 25 кВ 25 кВ
4.1.10 високотемпературний de Hochtemperaturelectronen-
електронний мікроскоп mikroskop
en high temperature eleсtrоn
microscope
fr microsсоре [e2]lectroni- *
que de haute temp[e2]ra- *
ture
ru высокотемпературный
электронный микроскоп
Просвічувальний елек- Просвечивающий электронный
тронний мікроскоп з на- микроскоп с нагреванием
гріванням об'єкта понад обьекта свыше 300 оС
300 оС
4.1.11 растровий електронний dе Rasterelektronenmikroskop
мікроскоп en scanning electron micros-
cope
fr microscope [e2]lectro- *
nique [а4] trame *
ru растровый электронный
микроскоп
Електронний мікроскоп, Электронный микроскоп,
який формує зображен- формирующий изображение
ня о6 єкта при скануван- объекта при сканировании
нi його поверхнi eлек- его поверхности электрон-
тронним зондом ным зондом
4.2 МЕТОДИ ОДЕРЖАННЯ ЗОБРАЖЕННЯ
В ЕЛЕКТРОННИХ МІКРОСКОПАХ
4.2.1 світлофонове зобра- de Hellichtbild
ження еn bright-tield image
fr inage de camp claire
ru светлопольное изображе-
ние
Зображення, сформова- Изображение, сформиро-
не у просвiчувальному ванное в просвечивающем
мікроскопі електронни- микроскопе электронными
ми пучками, які містять пучками, содержащими не-
- 6 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
нepoзcіяні в об єкті елек- рассеянные в обЬекте элек-
трони i електрони, роз- троны и энектроны, рас-
сіяні в межах апертурно- сеянные в пределах апер-
го кута об'єктивної турного угла объективной
лінзи линзы
4.2.2 темнофонове зобра- de Dunkellichtbild
ження en dark-field image
fr image de champ sombre
ru темнопольное изображе-
ние
Зображення, сформова- Изображение, сформиро-
не у просвiчувальному ванное в просвечивающем
електронному мiкроско- электронном микроскопе
пі тільки розсіяними в только рассеянными в обЬ-
об'єкті електронними екте электронными пучка-
пучка ми
4.2.3 мiкродифракцiя de Mikrobeugung
en microdefraction
fr microdiffraction
ru микродифракция
Дифракційне зображен- Дифракционное изобра-
ня малої ділянки об'є- жение малого участка
кта, сформоване у задній обьекта, сформированное
фокальній площині в задней фокальной плос-
об'єктивної лінзи збіль- кости обьективной линзы
шене електронними лін- и увеличенное электронными
зами линзами
4.2.4 зображення у вторин- de Sekund[a1]relelectronen- *
них електронах при bild beim lonenbeschuss
іонному бомбардуванні en image in secondary elec-
trons atan ion bombarde-
ment
fr image еn [e2]Iectrons *
secondaires au bombarde-
ment ionique
ru изображение во вторичных
электронах при вторичной
бомбардировке
3ображення, сформова- Изображение, сформиро-
не в емісiйному елек- ванное в эмиссионном элек-
тричному мікроскопі тронном микpоскопе вто-
вторинними електрона- ричными електронами, воз-
ми які виникають при никающими при бомбарди-
бомбардуванні об'єкта ровке обЬекта ионами
іонами
4.2.5 зображення у вторин- de Secund[a1]relelectronen- *
них електронах при bild beim Elektronenbes-
електронному бомбар- chuss
дуванні en image in secondary elec-
trons at an electron bom-
bardement
- 7 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
fr image en [e2]lectrons *
secondaires au bombardement
ru изображение, во вторичных
электронах при электронной
бомбардировке
Зображення, сформова- Изображение, сформиро-
не в емісійному елек- ванное в эмиссионном элек-
тронному мікроскопi тронном микроскопе вто-
вторинними електрона- ричными электронами, воз-
ми які виникають при никающими при бомбарди-
бомбардуванні об'єкта ровке обьекта электрона-
електронами ми
4.2.6 зображення у термое- de Gl[u1]helektronenbild *
лектронах en image in thermoelectrons
fr image en thermo[e2]lect- *
rons
ru изображение в термоэлек-
тронах
Зображення, сформова- Изображение, сформиро-
не в емісiйному елек- ванное в змиссионном элек-
тронному мiкроскопі тронном микроскопе тер-
термоелектронами, що моэлектронами, испускае-
випромінюються об'єк- мыми объектом при нагре-
том при нагріванні ве
4.2.7 зображення у фото- de Fotoeleltronenbild
електронах en photoimage
fr image en photo-[e2]lectrons*
ru изображение в фотоэлек-
тронах
Зображення, сформова- Изображение, сформиро-
не в емісійному елек- ванное в эмиссионном элек-
тронному мікроскопi тронном микроскопе фото-
фотоелектронами, що электронами, испускаемы-
випромінюються об'єк- ми обьектом под действием
том під дією оптичного оптического излучения
випромінювання
4.2.8 електронно-оптичнi de Elektronenoptische Aberra-
аберації tionen
еn electron-optical abbera-
tions
fr ahbcrations [e2]lectrono- *
optiques
ru электронно-оптические
аберрации
Викривлення електрон- Искажения электронно-оп-
но-оптичних зображень тических изображений
- 8 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
4.3 МЕТОДИ ДОСЛІДЖЕНЬ У ПРОСВІЧУВАЛЬНІЙ
ЕЛЕКТРОННІЙ МІКРОСКОПІЇ
4.3.1 метод електронної de Elektronenmikroskoppiever
мікроскопії fahren
еn method оf еleсtron micros-
copy
fr m[e2]thode dе microscopie
[e2]lectronique
ru метод электронной мик-
роскопии
Метод досліджень мате- Метод исследований мате-
ріалів за допомогою елек- риалов с помощью элек-
тронних мiкроскопів тронных микроскопов
4.3.2 прямі методи до- de Direkte Forschungsme-
сліжень thoden
en direct methods оf ana-
lysis
fr m[e2]thodes d'[e2]tude *
directes
ru прямые методы исследований
Методи вивчення об'є- Методы изучения обЬекта в
кта у виглядi дрiбних час- виде мелких частиц или уль-
тинок або ультратонких тратонких срезов
зрізів
4.3.3 невпрямі методи до- de Indirekte Forschungsme
сліджень thoden
en indirect niethods of analy-
sis
fr methodes d'[e2]tude indi- *
rectes
ru косвенные методы исследо-
ваний
Методи вивчення відбит- Методы изучения отпечат-
ків об'єкта у вигляді ков обЬекта в виде реплик
реплік
4.3.4 спеціальні методи dn Sonderforschungsmethoden
досліджень en special methods оf analy-
sis
fr m[e2]thodes d'[e2]tude *
sp[2]eciales *
ru специальные методы иссле-
дований
Методи вивчення об'єк- Методы изучения обЬекта,
та що базуються на спе- основанные на специальных
цiaльних способах впли- способах воздействия на
ву на нього него
- 9 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
4.3.4 Прямі методи до-
сліджень
4.3.4.1 свiтлофоновий метод de Sonderforschungmethode
досліджень cn bright-field analysis
method
fr m[e2]thode d'[e2]tude de
champ claire
ru светлопольный метод ис-
следований
Метод вивчення об'єкта Метод изучения обЬекта в
у прохідному пучку елек- проходящем пучке электро-
тронів, визначення роз- нов, определения размеров
мірів і форми мікрочас- и формы микрочастиц и суб-
тинок і субмікрокрис- микрокристаллов
талів
4.3.4.2 метод Муара dу Moiremethode
еn Moire's method
fr m[e2]thode de Moire
ru метод Муара
Метод визначення між- Метод определения меж-
площинних відстаней поскостных расстояний
крисалічних граток і кристаллических решеток и
наявності в них дис- наличия в них дислокаций.
локацій. Для криста- Для кристаллических реше-
лічних граток з міжпло- ток с межплоскостным рас-
щинною вiдстанню, мен- стоянием менее 0 2 нм
шою від 0 2 нм
4.3.4.3 дислокації de Versetzung
en dislocations
fr dislocation
ru дислокации
Дефекти кристалічних Дефекты кристаллической
граток у вигляді ліній з решетки, представляющие
порушенням правильно- собой линии с нарушением
го чергування атомних правильного чередования
площин атомних плоскостей
4.3.4.4 темнофоновий метод de Dunkellichtforschungsver-
досліджень fahren
en dark-field analysis method
fr m[e2]thode d [e2]tude de *
champ sombre
ru темнопольный метод исследо-
ваний
Метод підвищення кон- Метод повышения контрас-
трасту при одержанні та изображения при получе-
зображення розсіяним нии его рассеянным пуч-
пучком електронів ком электронов
4.3.4.5 метод мікродифракції de Вeugungsyerfahren
en diffraction method
- 10 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
fг m[e2]thode de diffraction
ru метод микродифракции
Метод одержання диф- Метод получения дифракци-
ракційної картини діля- онной картины участков
нок об'єкта (діаметром обЬекта (диаметром 1-2
1-2 мкм) для ідентифі- мкм) для идентификации
кації кристалічних фаз, кристаллических фаз
визначення їх тонких определения их тонких
структурних особливос- структурных особенностей
тей
4.3.4.6 метод ультратонких dе D[u1]nnschnittverfahren *
зрізів еn method оf ultra fine cut-
offa
fr m[e2]thode dе сouрes *
ultraminces
ru метод ультратонких срезов
Метод безпосередніх до- Метод непосредственных СЛ
сліджень ультратонких исследований ультратонких
зрізів зразка (не біль- срезов оразца (не более
ше 2000 нм завтовшки , 2000 нм толщиной), получе-
одержаних на ультра- нных на ультрамикротоме
мікротомі
4.3.4.7 ультрамікротом dе Ultramikrotom
еn ultramicrotome
fr ultramicrotome
ru ультрамикротом
Прилад для одержання Прибор для получения тон-
тонких зрізів спеціа- ких срезов специально под-
льно підготовлених готовленых обЬектов (тол-
об єктів (завтовшки до щиной до 1000 нм) для эле-
1000 нm) для електрон- ктронной микроскпии
ної мікроскопії
4.3.5 Непрямі мето-
ди дослiджень
4.3.5.1 репліка de Transmissionsgitter
en replica
fr r[e2]pligue *
ru реплика
Копiя, злiпок з рельєфу Копия, слепок с рельефа
досліджуваного об'єкта исследуемого обЬекта
4.3.5.2 метод реплік de Transmissionsgitterver-
fahren
en method of replica
fr m[e2]thode de r[e2]pligues *
ru метод реплик
Метод дослiдження Метод исследования обЬекта
об'єкта в електронному в электронном микрос-
мiкроскопі за допомогою копе при помощи отпечат-
- 11 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
відбитків, зліпків з його ков, cлепков с его рельефа
рельєфу
4.3.5.3 одноступінчаста реплі- de Finstufentransmissionsgitter
ка en one stage replica
fr r[e2]plique mono[e2]ta- *
g[e2]e *
ru одноступенчатая реплика
Репліка яка знята без- Реплика снятая непосред-
посередньо з поверхні ственно с поверхности об-
зразка і одержана окис- разца и получаемая окисле-
ленням поверхні, або нием поверхности или на-
нанесенням шару пласти- несением слоя пластика или
ка чи напиленням мета- напылением металла на эту
лу на цю поверхню поверхность
4.3.5.4 двоступінчата репліка de Zweistufentransmissionsgi-
tter
en two-stage replica
fr r[e2]plique [a4] deux *
[e2]tages *
ru двухступенчатая реплика
Pепліка знята з контак- Реплика, снятая с контакт-
ного боку промiжного ной стороны промежуточного
вiдбитка отпечатка
4.3.5.5 репліка з екстракцією de Extraktionstransmissiosgit-
ter
еn replica with ехtraction
fr r[e2]plique avec extrac- *
tion
ru реплика с экстракцией
Репліка яка містить у Реплика, содержащая в себе
coбi вкраплення дослід- вкрапления исследуемого
жуваного матеріалу материала
4.3.5.6 псевдореплiка dе Pseudotransmissionsgitter
en pseudoreplica
fr pseudo-r[e2]plique *
ru псевдореплика
Репліка одержана відша- Реплика, получаемая путем
руванням тонкої плів- отслаивания тонкой плен-
ки досліджуваного мате- ки исследуемого материала
рiалу за допомогою на- с помощью нанесения рас-
несення розчину плас- твора пластика или пленки
тика або плівки металу металла
4.3.5.6 псевдореплiка dе Pseudotransmissionsgitter
en pseudoreplica
fr pseudo-r[e2]plique
ru псевдореплика
Репліка одержана відша- Реплика, получаемая путем
руванням тонкої плів- отслаивания тонкой плен-
- 12 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
ки досліджуваного мате- ки исследуемого материалла
рiалу за допомогою на- с помощью нанесения рас-
несення розчину плас- твора пластика или пленки
тика або плівки металу металла
4.3.5.7 метод збільшення dе Kontrastanhebungsverfahren
контрастності об'єкта en method of object contrast
range amplification
fr m[e2]thode d accentuation *
des соntrastes d'un objet
ru метод усиления контрас-
тности обЬекта
Метод відтінення по- Метод оттенения повер-
верхні об'єкта шаром ме- хности объекта слоем ме-
талу, напиленням його у талла, напылением его в
вакуумі на досліджуваний вакууме на поверхность обЬ-
об'єкт або репліку під екта или реплику под неко-
деяким кутом до по- рым углом к поверхности
верхнi
4.3.5.8 розпилювальна вакуум- de Vakuumbedampfungsanlage
на установка en vacuum spraying device
fr dispositif de pulv[e2]ri- *
sation [a4] vide *
ru распылительная вакуумная
установка
Спецiальна вакуумна ус- Специальный вакуумный
тановка для розпилюван- прибор для распыления при
ня при нагріванні у ва- нагревании в вакууме угле-
куумі вуглецю, кварцу, рода, кварца, различных
різних металів та інших металлов и др. веществ
речовин
4.3.6 Спеціальнi методи
дослiджень
4.3.6.1 панорамне знімання dе Рanoramaaufnahme
en раnoramic survеу
fr prise de vue panoramique
ru панорамная съемка
Метод виконання вели- Метод выполнения большо-
кої кількості знімків го числа снимков различ-
різних частин одного ных участков одного обьек-
об'єкта за постійних та при постоянных усло-
умов виях
4.3.6.2 стереомікроскопічний de Stereomikroskopverfahren
метод еn stereoscopie microscope
method
fr m[e2]thode st[e2]r[e2]o- *
microscopique
ru стереомикроскопический
метод
Метод визначення струк- Метод определения струк-
- 13 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
тури поверхні об'єкта, туры поверхности объекта,
розмірів і орієнтації фаз, размеров и ориентировки
характеру розміщення фаз, характера расположе-
кристалів шляхом одер- ния кристаллов путем полу-
жання стереоскопічних чения стереоскопических
знімкiв снимков
4.3.6.3 метод фазовоконтраст- de Phasenkontrastmikroskopi-
ної мікроскопії everfahren
en phase-contrast microscopy
fr m[e2]thode de microscopie *
dе соntraste dе phase
ru метод фазовоконтрастной
микроскопии
Метод підвищення конт- Метод повышения контрас-
расту окремих фаз об'є- та отдельных фаз обЬекта
кта шляхом напилення путем напыления слоя ме-
шару металу з великим талла с большим атомным
атомним номером або номером или введения в
введення в об єкт ме- объект металлов, дающих
талів, які дають інше иное рассеяние электронов,
розсіювання електронів, чем сама фаза
ніж сама фаза
4.3.6.4 метод іонного тривлен- dе Ionen[a1]tzungverfahren *
ня en ionic etching method
fr m[e2]thode d attaque *
ionique
ru метод ионного травления
Метод бомбардування у Метод бомбардировки в ва-
вакуумі полірованої по- кууме полированной повер-
верхні об'єкта позитив- хности образца положитель-
ними іонами ными ионами
4.3.6.5 метод декорування de Objektdekorierungsverfahren
об'єкта en ohject decorating method
fr m[e2]thode de d[e2]cora- *
tion d'un objet
ru метод декорирования объ-
екта
Метод дослідження Метод исследования обьек-
об'єкта шляхом напи- та путем напыления на его
лення на його поверхню поверхность вещества, об-
речовини, яка утворює разующего на активных
на активних делянках участках поверхности заро-
поверхні зародки крис- дыши кристаллов, что дела-
талів і робить ці діля- ет эти участки видимыми
нки видимими
4.3.6.6 метод охолодження de Objektk[u1]hlungsverfahren *
об'єкта еn object cooling methode
fr mithode dе refroidissement
d'un objet
ru метод охлаждения объекта
- 14 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
Метод дослідження охо- Метод исследования охлаж-
лоджених у камері об'єк- денных в камере обЬектов
тів препаратів, які руй- препаратов, разрушающих-
нуютъся під дією елек- ся под действием электрон-
тронного опромінення ного облучения (биологи-
(бiологічні, органічні ческие органические
4.3.6.7 метод нагрiвання de Objektw[a1]rnungsverfahren *
об'єкта en object heating method
fr m[e2]thode de chauffement
d'un objet
ru метод нагревания обьекта
Метод дослідження пе- Метод исследования превра-
ретворень об'єкта при щений в обЬекте при его
його нагріванні до зада- нагревании до заданной тем-
ної температури в камері пературы в камере обьектов
об'єктів електронного электронного микроскопа
мікроскопа
4.3.6.8 метод газової камери de Gaskammerverfahren
en method of gaz chamber
fr m[e2]thode de chambre [а1] *
gaz
ru метод газовой камеры
Метод дослідження пе- Метод исследования превра-
ретворень в об'єкті в ат- щений в обьекте в атмосфе-
мосфері газу, введеного в ре газа, введенного в камеру
камеру об'єктів елек- объектов электронного мик-
тронного мікроскопа роскопа
4.3.7 Методи растрової
електронної мiкро-
скопії
4.3.7.1 метод вторинних de Sekund[a1]relektronver- *
електронів fahren
en method оf secondary
electrons
fr m[e2]thode des [e2]lect- *
rons secondaires
ru метод вторичных электро-
нов
Метод дослідження Метод исследования обьек-
об'єкта у вторинних та во вторичных электронах
електронах
4.3.7.2 метод відбитих елек- de Refrexionselektronverfahren
тронів en method оf reflected
elecirons
fr m[e2]thode des [e2]lec- *
trons r[e2]fl[e2]chis *
ru метод отраженных элек-
тронов
Метод дослідження Метод исследования обьєк-
- 15 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
об'єкта у відбитих та в отраженных от него
від нього електронів электронах
4.3.7.3 метод yвiбpaниx елек- de Absorbierelektronverfahren
тронів еn method ot absorbed
electrons
fr m[e2]thode des [e2]lec- *
trons absorb[e2]s *
ru метод поглощенных элек-
тронов
Метод дослiдження Метод исследования обьек-
обЬекта за допомогою та при помощи электронов,
електронів увібраних поглощенных при сканиро-
при проходженні елек- вании электронного зонда
тронного зонда по по- по поверхности объекта
верхні об'єкта
4.3.7.4 метод катодолюмі- de Katodenlumineszenz
несценції en method of cathod luminis-
cence
fr m[e2]thode dе luminiscence
cathodique
ru метод катодолюминесцен-
ции
Метод дослiдження Метод исследования обьек-
об'єкта з використанням та с использованием опти-
оптичного випроміню- ческого излучения, возбуж-
вання, яке збуджується вдаемого в обьекте электрон-
в об'єкті електронним ным зондом
зондом
4.3.7.5 метод каналювання de Elektronenkanalverfahren
електpoнів еn method of electron chan-
neling
fr methode de canalisation
des electrone
ru метод каналирования элек-
тронов
Метод дослідження об'є- Метод исследования обьек-
кта за допомогою ефекту та при помощи эффекта ка-
каналювання електрон- налирования электронных
них пучків в об'єкті пучков в объекте
4.3.7.6 метод наведеного de Influensttromverfahren
струму еn method оf induced current
fr methode de courant induit
ru метод наведенного тока
Метод дослiдження Метод исследования обьек-
об'єкта з використанням та с использованием тока,
струму, який виникає в возникающего в цепи с по-
колі з напiвпровiднико- лупроводниковым объектом
вим об'єктом під впли- при воздействии нижнего
вом електронного зонда электронного зонда
- 16 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
4.3.7.7 метод прохідних de Durchgangselektronverfahren
електронів еn method of passed electrons
fr m[e2]thode des electrons *
pass[e2]s *
ru метод прошедших электро-
нов
Метод дослідження Метод исследования обЬек-
об'єкта електронами, які та электронами, прошедшими
пройшли через нього через него
4.3.7.8 метод рентгенівського dе R[o1]ntgenstrahlmethode *
випромінювання еn Х-rау radiation method
fr m[e2]thode de radiation Х
ru метод рентгеновского из-
лучения
Метод дослiдження об'є- Метод исследования обьек-
кта за допомогою харак- та при помощи характерис-
теристичного рентге- тического рентгеновского
нівського випроміню- излучения возбуждаемого в
вання, яке збуджується в объекте электронным зон-
об'єктi електронним дом
зондом
4.3.7.9 метод <эээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээ...................... 4.3.7.9 *
m[e2]thode de Moire .................................... 4.3.4.2 *
m[e2]thode de radiation X............................... 4.3.7.8 *
m[e2]thode de retroidissement d un objet ............... 4.3.6.6 *
m[e2]thode de repliques ................................ 4.3.5.2 *
m[e2]thode des [e2]lectrons absorb[e2]s ................ 4.3.7.3 *
m[e2]thode des [e2]lectrons pass[e2]s .................. 4.3.7.7 *
m[e2]thode des [e2]lectrons r[e2]flechis ............... 4.3.7.2 *
m[e2]thode des [e2]lectrons secondaires ................ 4.3.7.1 *
m[e2]thode d'[e2]tude de champ claire .................. 4.3.4.1 *
m[e2]thode d'[e2]tude de champ sombre................... 4.3.4.4 *
m[e2]thodes d'[e2]tude directes ........................ 4.3.2 *
m[e2]thodes d'[e2]tude indirectes ...................... 4.3.3 *
m[e2]thodes d'[e2]tude speciales ....................... 4.3.4 *
m[e2]thode stereomicroscopique ......................... 4.3.6.2 *
microdiffraction ....................................... 4.2.3
microscope [a4] [e2]mission ............................ 4.1.4 *
microscope [e2]lectronique.............................. 4.1.1 *
microscope [e2]lectronique [a4] mirroir................. 4.1.5 *
microscope [e2]lectronique [a4] trame .................. 4.1.11 *
microscope [e2]lectronique de haute temp[e2]rature ..... 4.1.1 *
microscope [e2]lectronique de tres haute tension ....... 4.1.9 *
microscope [e2]lectronique d'ombre ..................... 4.1.8 *
microscope [e2]lectronique par reflexion................ 4.1.3 *
microscope [e2]lectronique par transmission ............ 4.1.2 *
prise de vue panoramique ............................... 4.3.6.1
pseudo-r[e2]plique ..................................... 4.3.5.6 *
r[e2]plique ............................................ 4.3.5.1 *
r[e2]plique [a4] deux [e2]tages ........................ 4.3.5.4 *
r[e2]plique avec extraction ............................ 4.3.5.5 *
r[e2]plique mono[e2]tage[e2] ........................... 4.3.5.3 *
ultramicrotome ......................................... 4.3.4.7
- 21 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК РОСІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ
аберрации электронно-оптические ....................... 4.2.8
дислокации............................................. 4.3.4.3
изображение во вторичных электронах
при ионной бомбардировке .............................. 4.2.4
изображение во вторичных электронах
при электронной бомбардировке ......................... 4.2.5
изображение в термоэлектронах ......................... 4.2.6
изображение в фотоэлектронах .......................... 4.2.7
изображение светлопольное ............................. 4.2.1
изобрражение темнопольное ............................. 4.2.2
метод вторичных электронов............................. 4.3.7.1
метод газовой камеры................................... 4.3.6.8
метод декорирования обЬекта ........................... 4.3.6.5
метод ионного травления................................ 4.3.6.4
метод исследования светлопольный ...................... 4.3.4.1
метод исследования темнопольный ....................... 4.3.4.4
метод каналирования электронов ........................ 4.3.7.5
метод катодолюминесценции ............................. 4.3.7.4
метод микродифракции .................................. 4.3.4.5
метод Муара ........................................... 4.3.4.2
метод наведенного тока ................................ 4.3.7.6
метод нагревания обЬекта .............................. 4.3.6.7
метод отраженных электронов ........................... 4.3.7.2
метод охлаждения обЬекта .............................. 4.3.6.6
метод поглощенных электронов .......................... 4.3.7.3
метод прошедших электронов ............................ 4.3.7.7
метод рентгеновского излучения ........................ 4.3.7.8
метод реплик .......................................... 4.3.5.2
метод стереомикроскопический .......................... 4.3.6.2
метод ультратонких срезов ............................. 4.3.4.6
метод <эээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээээ
|
||||||||||||||
| ээтегории документа: | ||||||||||||||
Читайте также:
|
||||||||||||||
|
Copyright © 2009-2013 Bud Info. Все права защищены. Disclaimer
|
||||||||||||||
э